■目次／項目案内

―基礎から対策まで― 半導体機器の静電気対策 序言　静電気放電の一般論 第１章　半導体デバイスの特性進歩と 　　　　　静電気破壊問題の歴史的変遷 第２章　半導体デバイスの静電気耐性試験の背景 第３章　静電気（ESD）耐性試験方法　 第４章　静電気対策の基本形 第５章　電子機器および電子部品素子の 　　　　　静電気放電耐性試験について 第６章　静電気対策の問題点 第７章　静電気対策用資材の現状と実態 第８章　静電気対策用資材評価法 第９章　ケーススタディ（静電気防止袋、 コンテナ、 　　　　　ICマガジンの静電気シールド 性能評価試験） 第10章　インテリジェントオフィスの床構法と 　　　　　　静電気防止 第11章　床仕上げ材の概要と評価方法 第12章　静電気対策に関するQ&A 第１部　主として半導体デバイスに関する 　　　　　対策について 第２部　主として静電気（ESD）対策用資材評価の 　　　　　 ための測定方法に関するQ&A